Teste no nível de wafer e Burn-In (WLTBI) Tamanho, participação, crescimento e análise da indústria, por tipo (bolacha única, multi-wafer e wafer completa), por aplicação (IDMS & OSAT) e previsão regional para 2033
Última atualização:28 July 2025
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Ano Base:
2024
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Dados Históricos:
2020-2023
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Número de Páginas:
116
Região:
Global
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Formato:
PDF
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ID do Relatório:
BRI123722
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ID SKU: 24930826
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