유형별 (정밀 절단, 선택적 증착, 강화 된 에칭-요오드, 종말점 감지) 별 (정밀 절단, 선택적 증착, 엔드 포인트 감지)별로 집중된 이온 빔 시스템 규모, 점유율, 성장 및 산업 분석 (야금/재료 과학, 반도체 장치 수정, TEM 시편 필드), 2025 년에서 2033 년까지 지역 통찰력 및 예측.

최종 업데이트:14 July 2025 | 기준 연도: 2024 | 과거 데이터: 2020-2023 | 페이지 수: 87

지역: 글로벌 | 형식: PDF | 보고서 ID: BRI101263 | SKU ID: 21277346